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  • IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H
    IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H

    測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode(小電流器件)進(jìn)(jìn)行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開(kāi)(kāi)啟和關(guān)(guān)閉引起的反復高溫和低溫,加速芯片內各種組件材料和結合面的熱機械應力,驗證封裝、內部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機械應力能力。IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:1110
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  • IGBT/SIC模塊功率循環(huán)(huán)試驗系統
    IGBT/SIC模塊功率循環(huán)(huán)試驗系統

    IGBT/SIC模塊功率循環(huán)(huán)試驗系統 華科智源-功率循環(huán)(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)(jìn)行實(shí)(shí)驗,通過(guò)(guò)控制實(shí)(shí)驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線(xiàn)(xiàn)失效和焊料層老化。實(shí)(shí)驗的關(guān)(guān)鍵是控制結溫的波動(dòng)(dòng)范圍以及最高溫度,得到不同條件下的實(shí)(shí)驗壽命,從而得到IGBT的壽命。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:1197
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  • SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000
    SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000

    SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數:   適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時(shí)(shí)間參數測試。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:673
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  • HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀
    HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀

    HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強,通過(guò)(guò)選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點(diǎn)(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)(wù)。系統采用帶有開(kāi)(kāi)爾文感應結構的測試插座,自動(dòng)(dòng)補 償由于系統內部及測試電纜長(cháng)(cháng)度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:573
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  • MOS管動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試儀ITC57300
    MOS管動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試儀ITC57300

    MOS管動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試儀ITC57300 ITC57300是美國ITC公司設計生產(chǎn)(chǎn)的高集成度功率半導體分立器件動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試設備,采用測試主機+功能測試頭+個(gè)(gè)性板的測試架構,可以滿(mǎn)(mǎn)足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數的測試要求,且具有波形實(shí)(shí)時(shí)(shí)顯示分析功能,是目前具水平的完備可靠的動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試設備。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:901
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  • 大功率IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT
    大功率IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT

    大功率IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數測試儀,可用于多種封裝形式的IGBT的測試,還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試,廣泛應用于軌道交通,電動(dòng)(dòng)汽車(chē)(chē),風(fēng)(fēng)力發(fā)(fā)電,焊機行業(yè)(yè)的IGBT來(lái)(lái)料選型和失效分析。測試過(guò)(guò)程簡(jiǎn)(jiǎn)單,既可以在測試主機里設置參數直接測試,又可以通過(guò)(guò)軟件控制主機編程后進(jìn)(jìn)行自動(dòng)(dòng)測試。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:693
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  • IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224
    IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224

    IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 該設備用于功率半導體模塊(IGBT、FRD、肖特基二極管等)的動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試,以表征器件的動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)特性,通過(guò)(guò)特制測試夾具的連接,實(shí)(shí)現模塊的動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數測試 品牌: 華科智源 名稱(chēng)(chēng): 雙脈沖測試平臺 用途: 測試動(dòng)(dòng)態(tài)(tài)參數

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:748
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  • IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT
    IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT

    IGBT靜態(tài)(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態(tài)(tài)參數,并生產(chǎn)(chǎn)器件傳輸曲線(xiàn)(xiàn)和轉移曲線(xiàn)(xiàn),測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動(dòng)(dòng)汽車(chē)(chē) ,風(fēng)(fēng)力發(fā)(fā)電,變頻器,焊機等行業(yè)(yè)的IGBT來(lái)(lái)料選型和失效分析。

    更新日期:2024-01-29型號:訪(fǎng)(fǎng)問(wèn)(wèn)量:740
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